CASES

電子基板上の微小異物の分析

お電話でのお問い合わせ

0120-75-2036

平日
8:30-17:00

精密機械に使用される電子基板においては、微小な異物であっても発生させないための対策が必要です。異物の対策には観察だけでなく、観察部の元素分析を行うことで、異物についての情報を得ることが重要です。

 

当社では、電子基板の異物分析に長けた技術者がお客様のご相談に直接対応し、迅速に問題解決の提案をさせていただきます(相談・お見積り無料)。

外観写真・分析概要

異物分析には、SEM-EDX、EPMA、XRF、FT-IR、ラマン分光法など多様な測定方法があります。
異物が主に無機物主体と予想される場合はSEM-EDX、EPMA、XRF、有機物主体と予想される場合はFT-IRラマン分光法を用いて分析を行います。無機物・有機物の予想がつかない場合は、STEP1として、SEM-EDXにて異物の元素組成を調べることで無機物か有機物かの判断をすることができます。
また、SEM-EDXでは電子顕微鏡での観察により、微小な部位の元素分析が可能であり、異物分析において非常に有効な分析手法です。

観察前処理Fig.1 観察前処理

 

PKG基板のバンプ部Fig.2 PKG基板のバンプ部(X190)

分析結果

局部の異物を狙って元素分析を行い、構成元素とその大まかな割合の情報が得られました。(Fig.3)

EDX分析結果Fig.3 EDX分析結果

実績

  • セラミック素子の異物分析
  • 金属異物分析
  • フィルター捕集異物分析

Q&A

φ10 cm、高さ2 cmまでは問題なく観察できます。
それ以上の大きさでも可能な場合がありますのでご相談ください。

試料にもよりますが、汎用SEMで5000~10000倍、FE-SEMで50000~100000倍となります。

ご依頼後、10営業日程度でメール速報さしあげます。
追加料金が発生する場合もございますが、特急納期対応も可能ですので、お気軽にお問合せください。

数量に応じたお値引きも検討しますので、お気軽にお問合せください。