CASES
低分子環状シロキサン分析
身の回りに使用されているシリコーン製品から発生する低分子環状シロキサンは、電子部品の接点不良の原因となるため、部品から発生する量や大気中の濃度を把握する必要があります。
Fig.1 電気接点障害のイメージ図
【測定対象シロキサン】 (測定対象はご相談下さい)
環状シロキサン3量体～10量体 (D3～D10)
環状シロキサン3量体～20量体 (D3～D20)
低分子シロキサンとは
- 珪素と酸素を骨格とする化合物で、Si-O-Si結合 (シロキサン結合)を持つ化合物の総称
- 低分子シロキサンとは、重合した分子数が20個までのもので、鎖状と環状のものがある
- 沸点は高いが、ガス化しやすい
Fig.2 D4：環状シロキサン4量 (オクタメチルシクロテトラシロキサン)
分析メニュー
1. 製品・部品中に含まれるシロキサンの定量
使用する製品・部品に含まれるシロキサンの含有量を定量します。
※合わせて接点不良個所の観察・解析サービスも行っております。
Fig.3 溶媒抽出
2. 環境空気中に含まれるシロキサンの定量
製品を使用している環境、作業現場、装置内部、制御盤内部など、環境空気中のシロキサン濃度を測定します。
Fig.4 捕集管による捕集
3. 排ガス中に含まれるシロキサンの定量
下水処理場の消化槽 (嫌気発酵槽)の消化ガスなど、ガス中のシロキサンを定量します。
Fig.5 サンプリングバッグによる捕集
4. 製品・材料から発生するシロキサンの定量
製品・材料から発生するシロキサンの量を、ご指定の温度で測定します。
温度による発生量の変化を把握できます。
Fig.6 加熱脱着法
Fig.7 ヘッドスペース法
※チャンバー法による前処理も対応致しますので、ご相談下さい
Fig.8 シリコーンゴム加熱時発生ガスのGC-MS測定例 ガスクロマトグラム(TIC)
>依頼書ダウンロードはこちら
シロキサンサンプル採取方法
お客様自身でも採取可能です。
ご要望に応じた採取キットを弊社よりお送りいたします。
Fig.9 ガスサンプリングバッグによるサンプリング Fig.10 捕集管によるサンプリング