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微小粒子の形態観察

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電界放出形走査電子顕微鏡 (FE-SEM)は、汎用SEMでは観察不能な1万倍以上での拡大観察が可能です。
また、同じ倍率なら汎用SEMと比べ、低加速電圧で観察が可能なため、試料ダメージが低減できます。

分析概要

3種類の試料をカーボンテープに固定し、FE-SEMで観察を行いました。

  • メチルシリコンパウダー
  • ニッケルパウダー
  • 焼結珪藻土

分析結果

Fig.1 MSP-AK06の観察(例)

Fig.1 のメチルシリコンパウダーは、5 μm程度のコンペイ糖状の形状をした物質であることがわかりました。

Fig.2 ニッケルパウダーType123の観察(例)

Fig.2 のニッケルパウダーは、3 μm程度の大きさで表面がスパイク状となった物質であることがわかりました。

Fig.3 焼結珪藻土の観察(例)

Fig.3 の焼結珪藻土は、円盤状の形状をしており、1 μm程度の小孔が多数観察されました。

条件次第で、最大20万倍程度までの拡大観察が可能です。元素分析用のEDXを備えており、元素分析も可能です。
その場合、最高倍率は5万倍程度となります。
※MSP-AK06及びニッケルパウダーType123は、日興リカ株式会社様にご提供いただきました。

用途例

  • 電子基板、セラミック、樹脂、金属