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X-0004
X線回折法の原理
X-ray Diffraction analysis, XRD
XRDの構成は、X線を発生させるX線発生装置、角度を測るゴニオメーター、X線強度を測定する計数装置、これらを制御し計数値の演算を行う制御演算装置の4つの部位からなっています。 X線発生装置では、真空中で試料に高速度の電子をあてることでX線を発生させます。X線変換効率は 0.1%~1%程度で、残りは熱に変わります。
<できないこと> ◆非晶質(アモルファス)物質の測定 ◆イオンの価数状態や共有結合性のような価電子の状態を反映した測定
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XRDの構成は、X線を発生させるX線発生装置、角度を測るゴニオメーター、X線強度を測定する計数装置、これらを制御し計数値の演算を行う制御演算装置の4つの部位からなっています。
X線発生装置では、真空中で試料に高速度の電子をあてることでX線を発生させます。X線変換効率は 0.1%~1%程度で、残りは熱に変わります。
◆同じ化学式でも結晶構造の違いを判別することが出来ます。
◆物質の同定(既知物質のピーク位置データベースからの同定)
◆配向性、結晶子径が分かります。
<できないこと>
◆非晶質(アモルファス)物質の測定
◆イオンの価数状態や共有結合性のような価電子の状態を反映した測定
メリット:粉末回折データを元に、カーブフィッティングによって測定試料の格子定数、原子座標位置を算出できます。
デメリット:与えられた初期値に対しての精密化となる為、構造モデルが必要となります。
自動で最適解を算出するのではなく、初期値の値が適切か、得られた解が妥当か
判断する必要があります。
結晶がゆがむことにより、面間隔:dが変化します。面間隔が変化することに測定されるX線ピーク位置がずれます。ピーク位置のずれにより、結晶のゆがみ、応力を測定することができます。(※測定できるサイズや範囲に制限がありますので詳細はお問い合わせください)
◆ボイラー水管の堆積物分析
◆もみ殻灰に含まれるシリカの結晶構造
◆鉱物種の同定解析
◆主成分の同定であり、同定にはおおよそ10%以上含有していることが必要
◆アモルファス(結晶構造が規則的でない)の状態のサンプルは測定ができません